פונקציית עבודה – הבדלי גרסאות

אין שינוי בגודל ,  לפני 10 שנים
אין תקציר עריכה
(v)
אין תקציר עריכה
<big>'''שיטות שמבוססות על פליטה כתוצאה מהארה'''</big>
 
ספקטרוסקופיית פליטה פוטואלקטרונית (PES) הואהיא המונח הכללי לטכניקות [[ספקטרוסקופיה|ספקטרוסקופיות]] המבוססות על האפקט הפוטואלקטרי. במקרה של ספקטרוסקופיה פוטואלקטרונית אולטרה-סגולה (UPS) המשטח של דגימת מוצק מוקרן באור [[אולטרה-סגול]] (UV) וה[[אנרגיה קינטית|אנרגיה הקינטית]] של האלקטרונים הנפלטים עוברת אנליזה. מכיוון שאור אולטרה סגול הוא [[קרינה אלקטרומגנטית]] עם אנרגיה <math>hf</math> נמוכה מ-100eV הוא מסוגל לעקור בעיקר [[אלקטרוני ערכיות]]. כתוצאה מהמגבלות של עומק הבריחה של אלקטרונים במוצקים, שיטת UPS מאוד תלויה בפני השטח, שכן עומק המידע הוא בטווח של 2-20 שכבות עצמיות (1-10 ננומטר). הספקטרום המתקבל בניסוי משקף את המבנה האלקטרוני של הדגימה ומספק מידע על מאפיינים של הדגימה כגון צפיפות המצבים בה, אכלוס המצבים, ופונקציית העבודה.
<big>'''שיטות שמבוססות על פליטה תרמיונית'''</big>
משתמש אלמוני