הבדלים בין גרסאות בדף "ננוטכנולוגיה"

מ (שוחזר מעריכות של 84.229.17.243 (שיחה) לעריכה האחרונה של Shanibasch)
* SEM - [[מיקרוסקופ אלקטרוני#מיקרוסקופ אלקטרונים סורק|מיקרוסקופ אלקטרונים סורק]] - מאפשר הדמיה של פני השטח של חומרים בסקאלה ננו-מטרית, לרוב לאחר ציפוי החומר במתכת.
* TEM - [[מיקרוסקופ אלקטרוני#מיקרוסקופ אלקטרונים חודק|מיקרוסקופ אלקטרונים חודר]] - מאפשר ראיה של חומרים ננומטרים ממגוון סוגים ואף ראיה של שכבות אטומים בודדות.
* FIB - [[קרןאלומת יונים מרוכזתממוקדת]] - מאפשרת הדמיה וחפירה בתוך פני שטח של חומרים בסקאלה ננו-מטרית.
* מערכות חדרים נקיים של מיקרו-אלטרוניקה - מאפשרות בנייה, בין היתר שיטתית, של מערכות בסקאלה המיקרונית והננו-מטרית.
* שיטות סינתזה כימיות התפתחו לרמה בה ניתן היו להכין מולקולות קטנות בכמעט כל מבנה רצוי. שיטות אלו משמשות לייצור של פלימרים וחומרים שונים לטובת המחקר בתחום.