הבדלים בין גרסאות בדף "תכליל (מינרלוגיה)"

מ
בוט החלפות: פלואורסצנט
(כיתוב תמונה)
מ (בוט החלפות: פלואורסצנט)
* עקיפת קרני רנטגן באבקה - בשיטה זו נדרשת כמות קטנה של אבקת תכליל מוצק. אם התכליל אינו נמצא על פני השטח של הגביש, יש לחשוף אותו ולגרדו באמצעות פצירת [[יהלום|יהלומים]] או חוד של גביש יהלום. בדרך זו, מאחר שיהלום [[קשיות|קשה]] ואינו נשרט, אין מכשיר הגירוד מוסיף מרכיבים משלו לאבקה. האבקה משמשת ליצירת צילום [[קרני רנטגן|רנטגן]] בדיפרקטומטר אבקה (powder diffractometer). דפוסי העקיפה המתקבלים מושווים לדפוסים ידועים. חסרונה של השיטה היא התאמתה לחומרים מוצקים בלבד.
 
* אלומת אלקטרונים - כאשר תכליל מוצק חשוף על פני השטח, ניתן להשתמש ב[[מיקרוסקופ אלקטרוני#מיקרוסקופ אלקטרוני סורק|מיקרוסקופ אלקטרוני סורק]] (SEM) בצמוד ל[[מיקרוסקופ אלקטרוני]] (EMP). בדרך זו נוצרות קרני רנטגן המייצגות את [[אורך גל|אורכי הגל]] של ה[[יסוד (כימיה)|יסודות]] המרכיבים את התכליל. [[קרינה פלואורסנטיתפלואורסצנטית]] ניתן לנתח באמצעות מערכת לפיזור אנרגיה (EDS) צמודה למיקרוסקופ אלקטרוני או למיקרוסקופ האלקטרוני הסורק, ואת ה[[ספקטרום]] המתקבל ניתן להמיר להרכב הכימי של הדגימה. לשימוש ב-SEM יש יתרון ביכולתו להגדיל את השטח הנבדק ולהפיק תמונות שלו, בעוד ה-EMP משמש בעיקר לכימות אנליזה כימית. שתי השיטות אינן הרסניות לדגימה אך הן מתקשות לזהות יסודות קלים.
 
* ספקטרוסקופיית לייזר רמאן (Raman laser spectroscopy) – אלומת [[לייזר]] [[מונוכרומטיות|מונוכרומטית]] ממוקדת בתכליל, וכאשר היא פוגעת ב[[מולקולה|מולקולות]] החומר, משתנה [[אורך גל|אורך הגל]] של חלק מה[[פוטון|פוטונים]], בהתאם לחומר הנבדק. כאשר ה[[אור]] פוגע בחומר הוא מעורר את ה[[אטום|אטומים]] המרכיבים אותו, וחלק מהפוטונים הנפלטים פליטה משנית, עוברים הסחה לאורכי גל קצרים או ארוכים יותר. את ההסחה ניתן למדוד דרך בדיקה ב[[מונוכרומטור]] של אורכי הגל הנפלטים. מידת ההסחה פרופורציונית ל[[רמות אנרגיה|רמות האנרגיה]] של החומר, ומאפשרת את זיהויו בהשוואה לדפוסים ידועים. היתרון בשימוש בשיטה זו היא התאמתה לחומרים בכל [[מצב צבירה]].