הבדלים בין גרסאות בדף "ספקטרוסקופיית אלקטרוני אוז'ה"

מ
תוספות מינוריות
מ (בוט: מעביר קישורי בינויקי לויקינתונים - d:q28087)
מ (תוספות מינוריות)
ישנם מספר סוגים של [[מיקרוסקופ אלקטרונים|מיקרוסקופי אלקטרונים]] שתוכננו על מנת לבצע ספקטרוסקופיית אוז'ה; מיקרוסקופ כזה מכונה מיקרוסקופ אוז'ה סורק (SAM) ויכול לספק [[תצלום|תצלומים]] [[מרחב (פיזיקה)|מרחב]]יים של פני השטח ב[[רזולוציה]] גבוהה. אחת הבעיות המשמעותיות שנתקלים בהן כאשר מבצעים בדיקת SAM היא הקושי ב[[מטען חשמלי|טעינת]] [[חומר]]ים שאינם [[מוליך|מוליכים]], דבר הגורם להגבלה של השיטה רק ל[[מתכות]] (במידה מסוימת). ניתן לפקח על הטעינה באמצעות שינוי מיקום הדגימה ביחס לקרן האלקטרונים, או באמצעות שימוש במכשיר היורה יוני [[ארגון]].
 
לעתים עושים שימוש בטכניקת התזה (sputtering) במקביל לספקטרוסקופיית אוז'ה על מנת להסיר שכבה דקה של חומר כך שניתן יהיה לחקור את השכבה שמתחתיה.
 
==ראו גם==
* [[XPS]]
 
 
[[קטגוריה:ספקטרוסקופיה]]