מיקרוסקופ כוח אטומי – הבדלי גרסאות

'''מיקרוסקופ כוח אטומי''' (ב[[אנגלית]]: (Atomic Force Microscope (AFM) הוא [[מיקרוסקופ]] בעל [[רזולוציה]] גבוהה במיוחד. הרזולוציה שלו יכולה להגיע עד ל[[אנגסטרם]] בודד, ו[[עוצמה (אופטיקהפיזיקה)|עוצמתו]] גבוהה פי אלף ממיקרוסקופ אופטי רגיל. מיקרוסקופ הכוח האטומי הראשון הומצא בשנת [[1986]], והוא משמש מאז ככלי יסודי בחקר החומר בסקאלות ה[[ננומטר|ננומטריות]], למטרות [[דימות]] ומדידה. מיקרוסקופ זה יעיל במיוחד לחקירת פני שטח של חומרים.