ויקיפדיה

אפיון חומרים – הבדלי גרסאות

עיון אינטראקטיבי בהיסטוריה
העריכה הבאה ←
תוכן שנמחק תוכן שנוסף
חזותיקוד ויקי
יצירה באמצעות תרגום הדף "Characterization (materials science)"
 
אין תקציר עריכה
שורה 3:
קיימים שלושה סוגים של שיטות עיקריות לאפיון חומרים:
 
<nowiki>#</nowiki> שיטות <nowiki>[[מיקרוסקופיה]]</nowiki>
<nowiki>#</nowiki> שיטות <nowiki>[[פיזור]]</nowiki> ו<nowiki>[[עקיפה]]</nowiki>.
<nowiki>#*</nowiki> <nowiki>[[דפרקצית קרני X]]</nowiki>
<nowiki>#*</nowiki> <nowiki>[[דפרקצית אלקטרונים]]</nowiki>
<nowiki>#</nowiki> <nowiki>[[סקטרוסקופיה]]</nowiki>
 
גבולות הגדרת המונח משתנים מהקשר להקשר וכמה הגדרות משמשות לו במקביל. לעיתים משתמשים בשיטות נוספות הלקוחות מתחומים שונים למשל [[אנליזה כימית]] ובדיקות מקרוסקופיות שונות.
שורה 17:
[[קובץ:Graphite_ambient_STM.jpg|ממוזער|תמונה של משטח גרפיט ברמה אטומית שנתקבלה בשמוש ב־STM.]]
[[קובץ:PIA16217-MarsCuriosityRover-1stXRayView-20121017.jpg|ממוזער|253x253 פיקסלים|צילום דפרקציית קרני X ראשון של אדמת מאדים
– ניתוח כימי־מינרלוגי מגלה פצלת השדה, פירוקסן, אוליבין ועוד ([[רובר]] "[[מארס סיינס לברטורי]]", "Rocknest", <nowiki>{{כ}}</nowiki> 17 באוקטובר, 2012) [65]]]
מיקרוסקופיה היא שם כולל למספר טכניקות אפיון אשר חוקרות וממפות את פני השטח והשכבות הקרובות לפני השטח של הדגם. טכניקות מיקרוסקופיה שונות משתמשות ב[[פוטונים]], [[אלקטרונים]], [[יונים]] או בגשש פיזי ומיפוי הכוחות בינו לבין פני הדגם. הן אוספות נתונים על המבנה הדגם במגוון סקלות  אורך. 
דוגמאות נפוצות של מכשירי מיקרוסקופיה הן:
שורה 36:
קבוצה זו של טכניקות משמשת במגוון עקרונות כדי לחשוף את ההרכב הכימי ולעיתים גם את המבנה הגבישי ומאפיינים הפוטואלקטריים של חומרים.
מספר שיטות ומכשירי ספקטרוסקופיה נפוצים הם:
* [[Energy-dispersive X-ray spectroscopy|ספקטרוסקופיית נפיצת אנרגיה של קרני X]] <nowiki>{{כ}}</nowiki> (EDX)
* [[ספקטרוסקופיית נפיצת אורכי גל בקרני X|ספקטרוסקופיית נפיצת אורכי גל של קרני X]] <nowiki>{{כ}}</nowiki>(WDX)<br>
* [[קריסטלוגרפיה בקרני רנטגן|עקיפה של קרני רנטגן]] (XRD)
* [[ספקטרומטר מסה|ספקטרומטריית מסת]]
אוחזר מתוך "https://he.wikipedia.org/wiki/אפיון_חומרים"