הבדלים בין גרסאות בדף "המכון למצב מוצק (הטכניון)"

מ (Danny-w העביר את הדף המכון למצב מוצק ל־המכון למצב מוצק (הטכניון): העברה לשם ממוקד, כמקובל.)
* חקירת פגמים ב[[גביש]]ים בעקבות השתלת יונים והרפייתם
* חקירת תכונות חשמליות ואופטיות של פולימרים מוליכים
* שימוש בספקטרומטרית מסה של יונים משניים (SIMS), ס[[ספקטרוסקופיית אלקטרוני אוז'ה|פקטרוסקופיית אלקטרוני אוז'ה]] ו-[[XPS]] לחקר כימוסורפצייה ו[[קטליזה]] הטרוגנית
* יצירה, בדיקה ומחקר של שכבות [[יהלום]] דקות