מדידות עכבה חשמלית – הבדלי גרסאות

תוכן שנמחק תוכן שנוסף
חימצון-חיזור ==> חמצון-חיזור
שורה 10:
 
המדידות מבוצעות ב[[תא שלש אלקטרודות]] סטנדרטי המחובר ל[[אלקטרוכימיה| פוטנציוסטט]].
מאחר שבשיטה זו מפעילים על המערכת מתח חליפין, על המתח להיות בעל [[משרעת]] נמוכה, שכן הפעלת מתח גבוה עלולה ליצור תהליכי [[חימצוןחמצון-חיזור]] אפקטיביים ולשנות את המערכת תוך כדי המדידה.
 
משרעת מתח החליפין הנמוכה גוזרת עבודה עם תמיסות שבהן [[מתח המנוחה]] יציב, שאילמלא כן משרעת מתח החליפין תבָּלע בתנודות מתח המנוחה. לשם כך נהוג להשרות את מערכת בתמיסה בה היא תמדד מספר רב של שעות, כדי לאפשר לה להגיע לאיזון.
בנוסף, עקב המתח הנמוך גם הזרמים בניסוי יהיו נמוכים, לכן יש לעבוד סביב פוטנציאל בו הזרמים לפני הפעלת מתח החליפין נמוכים ויציבים. זרמים נמוכים מפני שבמדידת זרמים גבוהים, השגיאה גבוהה, והיא עלולה להיות גדולה יותר מהזרם הנוצר על ידי מתח החליפין. זרמים יציבים מפני שני טעמים: ראשית, זרמים גבוהים מראים בדרך כלל על [[חימצוןחמצון-חיזור|פעילות פארדיית]] ענפה במערכת, ושנית, רגישות גבוהה לשינוי קל במתח עלולה להקשות על ניתוח התוצאות.
 
כל אלו מראים את חשיבות מציאת פוטנציאל העבודה, אותו ניתן לאתר על ידי [[וולטמטריה ציקלית| וולטמטריה מחזורית]] (ציקלית) או [[סריקה קווית]]. בוולטמטריה מחזורית, ניתן לבחור את הערך בו הזרם הוא אפס, בתנאי שמדובר באזור בו הזרמים יציבים (השיפוע נמוך). בסריקה קווית ניתן לבחור את נקודת הזרם המינימלי.