מיקרוסקופ כוח אטומי – הבדלי גרסאות
תוכן שנמחק תוכן שנוסף
אין תקציר עריכה |
מ ביטול קישור מדף לעצמו (תג) |
||
שורה 1:
{{לשכתב|תרגום מונחים לקוי וניסוח לא מדויק|נושא=מדעי הטבע}}
[[File:TOAT AFM.png|thumb|תמונת
[[קובץ:Atomic force microscope block diagram he.png|שמאל|300px]]
'''מיקרוסקופ כוח אטומי''' (ב[[אנגלית]]: (Atomic Force Microscope (AFM) הוא [[מיקרוסקופ]] בעל [[רזולוציה]] גבוהה במיוחד. הרזולוציה שלו יכולה להגיע עד ל[[אנגסטרם]] בודד. מיקרוסקופ הכוח האטומי הראשון הומצא בשנת [[1986]], והוא משמש מאז ככלי יסודי בחקר החומר בסקאלות ה[[ננומטר|ננומטריות]], למטרות [[דימות]] ומדידה. מיקרוסקופ זה יעיל במיוחד לחקירת פני שטח של חומרים.
|