ננו-חלקיק – הבדלי גרסאות
תוכן שנמחק תוכן שנוסף
שורה 17:
ישנן מספר שיטות לאפיון ננו-חלקיקים.
* [[Dynamic light scattering]] - מתבסס על [[תנועה
* [[קריסטלוגרפיה באמצעות קרני רנטגן]] - או XRD - שיטה המבוססת על אפיון באמצעות קרני X.
* [[מיקרוסקופ אלקטרוני|מיקרוסקופיית אלקטרונים]] - משמש בעיקר לאפיון של ננוחלקיקי מתכת ומוליכים למחצה. שיטה זו נותנת "תמונה" לגבי המשטח הננוחלקיקי.
| |||