הבדלים בין גרסאות בדף "תכליל (מינרלוגיה)"

אין שינוי בגודל ,  לפני 12 שנים
מ
בוט החלפות: מאחר ש;
מ (קישור)
מ (בוט החלפות: מאחר ש;)
* אמצעים אופטיים - זיהוי תכלילים נעשה באמצעות ראייה בלתי אמצעית או באמצעות [[זכוכית מגדלת]] או [[מיקרוסקופ]]. דרך זיהוי זו היא פשוטה, אך אינה מהימנה כמו השיטות האחרות ותלויה בניסיונו של הבוחן, ורק תיאור מדויק וקפדני של התכלילים עשוי לשפר את אמינותה.
 
* עקיפת קרני רנטגן באבקה - בשיטה זו נדרשת כמות קטנה של אבקת תכליל מוצק. אם התכליל אינו נמצא על פני השטח של הגביש, יש לחשוף אותו ולגרדו באמצעות פצירת [[יהלום|יהלומים]] או חוד של גביש יהלום. בדרך זו, מאחר ויהלוםשיהלום [[קשיות|קשה]] ואינו נשרט, אין מכשיר הגירוד מוסיף מרכיבים משלו לאבקה. האבקה משמשת ליצירת צילום [[קרני רנטגן|רנטגן]] בדיפרקטומטר אבקה (powder diffractometer). דפוסי העקיפה המתקבלים מושווים לדפוסים ידועים. חסרונה של השיטה היא התאמתה לחומרים מוצקים בלבד.
 
* אלומת אלקטרונים - כאשר תכליל מוצק חשוף על פני השטח, ניתן להשתמש ב[[מיקרוסקופ אלקטרוני#מיקרוסקופ אלקטרוני סורק|מיקרוסקופ אלקטרוני סורק]] (SEM) בצמוד ל[[מיקרוסקופ אלקטרוני]] (EMP). בדרך זו נוצרות קרני רנטגן המייצגות את [[אורך גל|אורכי הגל]] של ה[[יסוד (כימיה)|יסודות]] המרכיבים את התכליל. [[קרינה פלואורסנטית]] ניתן לנתח באמצעות מערכת לפיזור אנרגיה (EDS) צמודה למיקרוסקופ אלקטרוני או למיקרוסקופ האלקטרוני הסורק, ואת ה[[ספקטרום]] המתקבל ניתן להמיר להרכב הכימי של הדגימה. לשימוש ב-SEM יש יתרון ביכולתו להגדיל את השטח הנבדק ולהפיק תמונות שלו, בעוד ה-EMP משמש בעיקר לכימות אנליזה כימית. שתי השיטות אינן הרסניות לדגימה אך הן מתקשות לזהות יסודות קלים.
271,876

עריכות