הבדלים בין גרסאות בדף "המכון למצב מוצק (הטכניון)"

קצת עריכה
(קצת עריכה)
'''המכון למצב מוצק''' הוא יחידת [[מחקר]] בין תחומית ב[[הטכניון - מכון טכנולוגי לישראל|טכניון]] העוסקת ב[[פיזיקת מצב מוצק|מחקר מוצקים]]. במכון חברי סגל מהפקולטות ל[[פיזיקה]], ל[[הנדסת חשמל]], ל[[כימיה]] ול[[הנדסת חומרים]].
 
==פעילות המחקר במכון==
פעילות המחקר במכון ניתנת לחלוקה למחקרים שהם בסיסיים בעיקרם, למחקרי גישוש יישומיים ולמחקרים הסובבים סביב יישום חומרים [[מוליך למחצה|מוליכים למחצה]] וייצור אבטיפוס של התקנים אלקטרוניים ואלקטרואופטייםו[[אלקטרואופטיקה|אלקטרואופטיים]]. מעבדות השירות תומכות במחקר על ידי מתן שירותים לחוקרי הטכניון ולמשתמשי חוץ, תוך ניצול הציוד הייחודי הקיים במכון: מעבדת [[פני שטח]], מעבדת השתלת [[יונים]] ומעבדת [[קרני רנטגן]].
 
===מחקר בסיסי===
* חקירת [[רקומבינציה]] של [[אקסיטון|אקסיטונים]] ופלאסמת אלקטרונים-חורים במוליכים למחצה מסוג III-V ו-II-VI
חקירת רקומבינציה של אקסיטונים ופלאסמת אלקטרונים-חורים במוליכים למחצה מסוג III-V ו - II-VI; חקר תכונות של נקודות קוונטיות, בורות קוונטיים ועל סריגים הבנויים משכבות עוקבות של GaAs/AlGaAs/InGaAs ומערכות המבוססות על מצעים של InP ושכבות של InAlAs, InAs או InGaAsPבשיטות של ספקטרוסקופיה אופטית, פוטומוליכות ומדידות תובלה חשמלית; הספקטרוסופיה האופטית כוללת את תחומי הפיקו והפמטו שניה, חקר הדינמיקה של נושאי מטען מעוררים ואקסיטונים, ספקטרוסקופיה בתחום האינפרא אדום הבינוני של מעברים בין פסים ובין תת-פסים, פזור ראמאן, ספקטרוסקופית ODMR וספקטרוסקופיה בשדה מגנטי. כמו כן נחקרות בעיות של סוליטונים בחומרים רפרקטוריים; תובלה ורקומבינציה במוליכים למחצה אמורפיים; פיזור ראמאן רזונטיבי בפולימרים מוליכים, במוליכים למחצה ומבנים קוונטיים ממוליכים למחצה; חקר מצביםן מעוררים אופטית וחקר התקנים אופטו-אלקטרוניים בפולימרים מוליכים; מחקר תכונות שריג של מוליכים יוניים וגבישים מעורבים וחקירת מעבר סדר אי-סדר במוליכים למחצה בעזרת פיזור ראמאן; חקירת פגמים בגבישים בעקבות השתלת יונים והרפייתם; חקירת תכונות חשמליות ואופטיות של פולימרים מוליכים; שימוש בסקפטרוסקופיה Augur, SIMS ן-XPS לחקר כימוסורפצייה וקטליזה הטרוגנית; יצירה, בדיקה ומחקר של שכבות יהלום דקות.
* חקר תכונות של [[נקודה קוונטית|נקודות קוונטיות]], בורות קוונטיים וסריגים הבנויים משכבות עוקבות של GaAs/AlGaAs/InGaAs ומערכות המבוססות על מצעים של InP ושכבות של InAlAs, InAs או InGaAsP בשיטות של [[ספקטרוסקופיה]] אופטית, פוטומוליכות ומדידות תובלה חשמלית; הספקטרוסופיה האופטית כוללת את תחומי הפיקו וה[[פמטושנייה]], חקר הדינמיקה של נושאי מטען מעוררים ואקסיטונים, ספקטרוסקופיה בתחום ה[[אינפרא אדום]] הבינוני של מעברים בין פסים ובין תת-פסים, [[פיזור ראמאן]], ספקטרוסקופיית ODMR וספקטרוסקופיה בשדה מגנטי.
* בעיות של סוליטונים בחומרים רפרקטוריים
* תובלה ורקומבינציה במוליכים למחצה אמורפיים
* פיזור ראמאן רזונטיבי בפולימרים מוליכים, במוליכים למחצה ומבנים קוונטיים ממוליכים למחצה
* חקר מצביםן מעוררים אופטית וחקר התקנים אופטו-אלקטרוניים בפולימרים מוליכים
* מחקר תכונות שריג של מוליכים יוניים וגבישים מעורבים וחקירת מעבר סדר אי-סדר במוליכים למחצה בעזרת פיזור ראמאן; חקירת פגמים בגבישים בעקבות השתלת יונים והרפייתם
* חקירת תכונות חשמליות ואופטיות של פולימרים מוליכים; שימוש בסקפטרוסקופיה Augur, SIMS ן-XPS לחקר כימוסורפצייה וקטליזה הטרוגנית
* יצירה, בדיקה ומחקר של שכבות יהלום דקות.
 
===מחקר יישומי===