ננוטכנולוגיה – הבדלי גרסאות

* STM -– [[מיקרוסקופ מינהורמנהור סורק|מיקרוסקופ מִנהור סורק]] -– מאפשר הדמיית פני השטח של חומרים בסקאלה אטומית, בדגש על מוליכים. מכשיר זה פרץ את הדרך בתחומו ויוצריו זכו בפרס נובל לפיזיקה. בעזרתו לראשונה אפשר היה לעשות הדמיה לפני שטח, בעיקר מוליכים, ברזולוציה של אטומים ואף לעשות מניפולציות על אטומים בודדים.

* AFM -– [[מיקרוסקופ כוח אטומי]] -– מאפשר הדמיה של פני השטח של חומרים בסקאלה אטומית, בין השאר גם בסביבה לחה ובתוך תמיסה.

* SEM -– [[מיקרוסקופ אלקטרונים סורק]] -– מאפשר הדמיה של פני השטח של חומרים בסקאלה ננו-מטרית, לרוב לאחר ציפוי החומר במתכת.

* TEM -– [[מיקרוסקופ אלקטרונים חודר]] -– מאפשר ראיה של חומרים ננומטרים ממגוון סוגים ואף ראיה של שכבות אטומים בודדות.

* FIB -– [[אלומת יונים ממוקדת]] -– מאפשרת הדמיה וחפירה בתוך פני שטח של חומרים בסקאלה ננו-מטרית.

* מערכות חדרים נקיים של מיקרו-אלטרוניקה -– מאפשרות בנייה, בין היתר שיטתית, של מערכות בסקאלה המיקרונית והננו-מטרית.