מיקרוסקופ כוח אטומי – הבדלי גרסאות
תוכן שנמחק תוכן שנוסף
אנונימי מדי (שיחה | תרומות) |
תמונת AFM |
||
שורה 11:
== יתרונות וחסרונות ==
למיקרוסקופ כוח אטומי יתרונות רבים על מכשירי מדידה אחרים. הראשון שבהם הוא הרזולוציה הגבוהה שלו. בנוסף לכך, תמונת הדגימה שהוא מייצר היא תלת ממדית, שלא כמו [[מיקרוסקופ אלקטרונים]] המייצר תמונה דו-ממדית של הדגם. כמו כן, אין צורך ב[[ריבוץ]] של שכבת הגנה כנדרש במיקרוסקופ אלקטרונים סורק (SEM), או ריקוע פני השטח כנדרש במיקרוסקופ אלקטרונים חודר (TEM). גם אין צורך לעבוד ברמת [[ריק|ואקום]] גבוהה - ניתן אפילו לעבוד בסביבה נוזלית, יתרון שמועיל במיוחד לחוקרים מתחומי [[מדעי החיים]].
[[קובץ:AFM Innventia nanocellulose.JPG|ממוזער|תמונת מיקרוסקופ כוח אטומי של [[ננוצלולוז]]]]
רוב החסרונות של מיקרוסקופ כוח אטומי נוגעים לזמן הרב, יחסית, שאורכת מדידת דגימה אחת. בנוסף, שטח הדגימה וטווח הגבהים הטופוגרפיים הניתנים למדידה קטנים מאוד. לכן שיטה זו מתאימה רק לדגמים קטנים במיוחד.
==ראו גם==
| |||