המכון למצב מוצק (הטכניון) – הבדלי גרסאות
תוכן שנמחק תוכן שנוסף
קצת עריכה |
עריכה |
||
שורה 7:
* חקירת [[רקומבינציה]] של [[אקסיטון|אקסיטונים]] ופלאסמת אלקטרונים-חורים במוליכים למחצה מסוג III-V ו-II-VI
* חקר תכונות של [[נקודה קוונטית|נקודות קוונטיות]], בורות קוונטיים וסריגים הבנויים משכבות עוקבות של GaAs/AlGaAs/InGaAs ומערכות המבוססות על מצעים של InP ושכבות של InAlAs, InAs או InGaAsP בשיטות של [[ספקטרוסקופיה]] אופטית, פוטומוליכות ומדידות תובלה חשמלית; הספקטרוסופיה האופטית כוללת את תחומי הפיקו וה[[פמטושנייה]], חקר הדינמיקה של נושאי מטען מעוררים ואקסיטונים, ספקטרוסקופיה בתחום ה[[אינפרא אדום]] הבינוני של מעברים בין פסים ובין תת-פסים, [[פיזור ראמאן]], ספקטרוסקופיית ODMR וספקטרוסקופיה בשדה מגנטי.
* בעיות של [[סוליטון|סוליטונים]] בחומרים רפרקטוריים
* תובלה ורקומבינציה
* פיזור ראמאן רזונטיבי
* חקר
* מחקר תכונות שריג של מוליכים יוניים וגבישים מעורבים וחקירת מעבר סדר אי-סדר במוליכים למחצה בעזרת פיזור ראמאן
* חקירת פגמים * חקירת תכונות חשמליות ואופטיות של פולימרים מוליכים
* שימוש בסקפטרוסקופיה Augur, SIMS ן-XPS לחקר כימוסורפצייה * יצירה, בדיקה ומחקר של שכבות [[יהלום]] דקות.
===מחקר יישומי===
* שימוש בהשתלת יונים והרפיית נזקי הקרינה ליצירת מבנים חדשים מוליכים למחצה
* השתלת יונים ביהלומים וחקירת השינויים בתכונותיהם האופטיות והחשמליות * הכנת שכבות דקות דמויות יהלום על ידי [[שיקוע]] [[פחמן]] מאלומות יונים; הכנת שכבות יהלום על ידי פירוק מולקולות [[הידרוקרבון|הידרוקרבונריות]] על ידי [[פילמנט]] חם לצורכי ציפוי * הכנת שכבות דקות של מוליכים למחצה בשיטות גידול אפיטקסיאלי * פיתוח ובניית אבטיפוסים של התקנים אלקטרואופטיים המתבססים על Si ובעיקר על גבישים מרוכבים מהקבוצות III-V ו ==קישורים חיצוניים==
| |||