הבדלים בין גרסאות בדף "פוטואלסטיות"

הוסרו 16 בתים ,  לפני 10 שנים
מ
אינפרא->תת
מ (אינפרא->תת)
ערכים לא שלמים של N ניתן למדוד בדרכים הבאות:
# לפי הגוונים האופייניים. בין סדר פס אפס לסדר פס '''1''' מופיעים כל צבעי הקשת, אם כי בהירותם הולכת ונחלשת עם עליית סדר הפס (ראו תצלום 1){{הערה|אבי פן, צילום באור מקוטב כאמצעי לאנליזת חוזק ומבנים בשיטה הפוטואלסטית, עבודת גמר הנדסאי, מכללת קריית-אונו, המגמה לצילום, 1984}}
# מדידה באמצעות לוחית גל מתכווננת (Babinet-Soleil Null Balance Compensator או Wollaston Prism - האחרון שימושי במיוחד בתחום ה[[אינפרא תת-אדום]])
ס# למדוד על ידי שינוי הכיוון של המקטבים ולוחית הגל (שיטת TARDY)
 
# אופטימיזציה של מבנה על מנת להשיג יחס גבוה יותר בין החוזק לבין המשקל והמחיר {{הערה|Macke H.J. & Sant T.D., The Intricate Pattern of Stress, Mechanical Engineering, Dec 1982}}
# בדיקה תכונות, איכות ייצור והרכבה של מבנים שקופים. בדיקה כזו היא בדרך כלל [[בדיקות לא הורסות|ללא הרס]]{{הערה|רייס מ., מדריך להנדסה אזרחית, מסדה 1990, ע'325}}
# בדיקת תהליכי ייצור של רכיבי [[מיקרואלקטרוניקה]], [[פרוסת סיליקון|סיליקון]] ו[[גרמניום]] אטומים לאור נראה, ולכן משתמשים ב[[חיישן|גלאים]] ומקטבים המתאים לתחום ה[[אינפרא תת-אדום]]{{הערה|Williams P.A.,Rose, Lee, Conrad, Day and Hale, Optical, thermo-optic, electro-optic and photoelastic properties of bismuth germanate, Applied Optics, Vol.35, No.19, July1996 pp.3562-3569}}{{הערה|Anand Asundi, Recent Advances in Photoelastic Applications, Nanyang Technological University, Singapore 2008}}
# איתור מיקום אופטימלי ליישום של אמצעי מדידה אחרים, כגון : מדי-עיבור, אמצעים לזיהוי [[מכניקת השבר|סדק]], מדי-שקיעה ועוד